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电子产品设计与制造系统 DFT&测试程序开发

DFT&测试程序开发

一、支持的DFT测试设备系列:

TIM截图20171023161359.png

二、DFT设计与光学检测几大特点:

1. ICT &飞针程序脱机制作
2. 探针优化,支援Kelvin, Power injection 逻辑运算
3. 整合式电气测试& boundary scan
4. 图形化表示探针位置
5. 测试点覆盖率分析
6. ICT治具设计
7. ICT治具再利用
8. AOI & AXI&SPI脱机程序制作
9. 支援由 Gerber资料导出Netlist信息
10.支持Gerber网络表的创建

三、DFT 功能介绍以及优点:

TIM截图20171023162016.png

四、DFT 功能介绍以及优点:

q可以清楚的看到执针分析图
q依据分析结果下探针, 并且可快速输出多种测试设备程序

 

q降低生产除错时间、增加可测率与可靠性
五、支持的AOI/AXI/SPI检测设备系列:
    支持的光学及 X-Ray 检测设备:
  • Agilent 5DX AXI
  • Agilent AOI
  • CR Technology AOI
  • MVP 3D Paste AOI
  • MVP Component AOI
  • Omron AOI
  • Orbotech AOI
  • Saki AOI
  • Sony AOI
  • Teradyne 7200 AOI
  • Teradyne 7300 AOI
  • TRI AOI
  • Viscom AOI
  • VI Technology AOI

六、AOI/SPI/AXI检查功能介绍及案例:

客户;汽车电子行业/手机行业
该公司目前做法比较繁琐,需要多做很多工作

  1. 从工艺部门拿Gerber开孔文件
  2. 导入XY坐标
  3. 导入BOM
  4. 使用编程软件整合
  5. 优化………

使用Valor做法;导入ODB+BOM直接输出设备所需的程序,一步到位

  • 可以生成各种机器的AOI/SPI/AXI程序
  • 根据需求瞬间产生机器所读取的程序
TIM截图20171023163258.png


 

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